荧光切片扫描显微镜价格

时间:2019年12月03日 来源:

荧光切片扫描显微镜价格, 正置荧光显微镜由落射荧光显微系统与反射式显微系统组成,采用无限远长工作距离平场物镜与大视野目镜。摆入摆出式旋转聚光系统工作距离长,方便进行相衬观察。荧光显微落射系统使用模块化设计,可以快捷、安全地调整照明系统,对荧光滤**组件进行切换。是生物学、细胞学、**学、遗传学、免疫学等研究工作的先进显微设备。荧光显微镜大范围应用于科学研究、高分子观察、高校实验、橡塑生产,显微镜、发光材料严究,染色观察,结构分析。 埃美特(AIMCO)旗下有些型号的正置荧光显微镜可以拓展连接电脑,或者数码,单反相机。可将传统的光学显微镜与电脑计算机(数码相机)通过专业的工业相机连接,可以在目镜筒上进行直接观察,还能在电脑计算机(数码相机)等显示设备实时进行观察,可以方便的将观察画面及动态视频进行保存和打印。

埃美特(厦门)科技有限公司是一家专注于全自动扫描显微镜的高科技企业,公司目前主要产品有数字病理切片扫描显微镜、数字荧光切片扫描显微镜、金相扫描显微镜、超景深显微镜。埃美特凭借多年的技术积累,公司的产品广泛应用于循环肿瘤细胞分析(CTC)、病理诊断、免疫荧光FISH(荧光原位杂交)、特殊染色、生物标志物表达研究、形态学教学、活细胞观察、藻类检测、精子检测等。 埃美特(AIMCO)全自动扫描显微系统通过高质量的病理切片为**及其他疾病诊断开辟了一个新的研究途径。这套系统拥有优异的图像质量、简便的一键式操作方式和多种扫描模式可选。全自动扫描显微系统可以满足不同领域的科研人员的要求,将明场、荧光和FISH全部切片成像集成到一个自动显微镜系统中,用完美的分辨率展现切片的细节特征。 自主研发的扫描平台,具有无回程间隙、精度高、动态速度范围大、高可靠性以及免维护等优点。清晰的明场及荧光成像满足不同的科研需求,可自动全区域扫描,自动识别目标物;自动区分不同染色条件下的细胞,指定区域回看、拍照,荧光成像清晰,计数准确,操作简便,可添加标尺(μm),可在图像上进行测量及标注,进行图像背景处理。

超景深显微镜是一种双目观察的连续变倍实体显微镜,专为要求工作距离长,观察视域大的用户而设计。超景深显微镜集体视显微镜、工具显微镜和金相显微镜于一体,可以观察传统光学显微镜由于景深不够而不能看到的显微世界。 超景深显微镜工作距离长,清晰范围大,附件齐全操作方便。在观察物体时能产生正立的三维空间像,将微小的物体加以放大,形成清晰正的立体像。立体感强,成像清晰和宽阔。具有较长的工作距离是适用范围非常广的常规显微镜。超景深显微镜性能可靠,操作简单、使用方便且外形美观,不仅可作教学示范,生物解剖等观察分析,还因为体视显微镜具有很高的分辨率及大视场的清晰,因此也被大范围用于电子工业,精密工程、塑胶业、医疗、生物医学、公安系统等行业科研部门作观察分析用。也适用于电子工业和仪器仪表行业作精细零部件的检验、装配、修理。

荧光切片扫描显微镜价格, 倒置荧光显微镜可分为两种: 1.透射式荧光显微镜: 激发光源是通过聚光镜穿过标本材料来激发荧光的。常用暗视野集光器,也可用普通集光器,调节反光镜使激发光转射和旁射到标本上.这是比较旧式的荧光显微镜。其优点是低倍镜时荧光强,而缺点是随放大倍数增加其荧光减弱.所以对观察较大的标本材料较好。 2.落射式荧光显微镜这是近代发展起来的新式荧光显微镜,与透射式荧光显微镜不同处是激发光从物镜向下落射到标本表面,即用同一物镜作为照明聚光器和收集荧光的物镜。光路中需加上一个双色束分离器,它与光铀呈45。角,激发光被反射到物镜中,并聚集在样品上,样品所产生的荧光以及由物镜透镜表面、盖玻片表面反射的激发光同时进入物镜,反回到双色束分离器,使激发光和荧光分开,残余激发光再被阻断滤片吸收。如换用不同的激发滤片/双色束分离器/阻断滤片的组合插块,可满足不同荧光反应产物的需要。此种荧光显微镜的优点是视野照明均匀,成像清晰,放大倍数愈大荧光愈强。

金相显微镜又叫材料显微镜,主要用来观察金属组织的结构,可以分为正置金相显微镜跟倒置金相显微镜。那么金相显微镜的正置与倒置的区别又是怎样的呢: 正置金相显微镜在观察时成像为正像,这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便,由于符合人的日常习惯,因此更广的应用于透明,半透明或不透明物质。大于3微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。 而倒置金相显微镜利用光学平面成像的方法,对各种金属和合金的组织结构进行鉴别和分析,大范围地应用于工厂或实验室进行铸件质量、原材料检验,或工艺处理后材料金相组织的研究分析工作,从而提供直观的分析结果,是矿山、冶金、机械加工业中铸造、热处理质量鉴定分析的关键设备。倒置式金相显微镜,由于试样观察面向下与工作台表面重合,观察物镜位于工作台的下面,向上观察,这种观察形式不受试样高度的限制,使用方便。 简单说:正置的物镜向下试样放在下面,倒置的物镜向上试样放在上面。也就是说:正置的镜头在载物台上面,将试块试面朝上放在载物台上,此时镜头在上,试块正置在上,镜头从上向下对试面进行观测。倒置反之。

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